13911564578,010-82967128
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 澤攸科技電子顯微鏡 > TEM原位解決方案
原位解決方案力學-電學測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實現(xiàn)高精度的力學及電學測量。
原位解決方案-低溫電學測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現(xiàn)光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環(huán)境（包括力，熱，光，電等），從而對材料或者器件等樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。
原位解決方案-高溫力學測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時進行定量的力學測量。實現(xiàn)了透射電鏡中真正意義上的高分辨率定量原位力學研究。
原位解決方案-樣品桿預抽存儲系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預抽存儲系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進口分子泵組、樣品桿預抽室及觸摸顯示屏組成。
聯(lián)系人：霍先生
地址：北京市昌平區(qū)吉晟別墅19-11
郵箱：huogang010@163.com
傳真：010-82967358歡迎您關注我們的微信號了解更多信息
掃一掃
歡迎來到